Porte di scansione indirizzabili

La porta di accesso per test e architettura boundary-scan standard IEEE 1149.1 viene utilizzata per collaudare ed eseguire il debug di porte di sistema e di circuiti stampati assemblati. Le porte di scansione indirizzabili utilizzano dispositivi chiamati JTAG (Joint Test Action Group), come la maggior parte dei sistemi integrati, per consentire il debug del circuito, la programmazione del firmware e il test boundary scan.

Cosa sono i dispositivi JTAG?

JTAG è un'interfaccia hardware comune che fornisce ad un computer un modo per comunicare direttamente con i chip su una scheda. È stato originariamente sviluppato da un consorzio, il Joint (European) Test Access Group, a metà degli anni '80 per affrontare la crescente difficoltà di testare i circuiti stampati (PCB).

Oggi JTAG viene utilizzato per il debug, la programmazione e il test praticamente su tutti i dispositivi integrati.

A cosa serve il Boundary test scan

Con l'invenzione dei circuiti integrati è nata la necessità di testare le interconnessioni fisiche su un circuito stampato.

Poiché l'industria ha sviluppato interconnessioni a densità sempre più elevata e componenti a passo sempre più fine, è divenuto necessario escogitare un modo standardizzato per testare i circuiti integrati (o chip).

Incorporando la logica di test all'interno dell'IC stesso e limitando l'interfaccia fisica a pochi segnali, il JTAG/boundary-scan è divenuta una soluzione elegante per testare, eseguire il debug e diagnosticare i moderni sistemi elettronici.

Applicazioni

L'interfaccia JTAG offre ai produttori un modo per testare le connessioni fisiche tra i pin su un chip, permettendo di assicurarsi che il pin A sul chip A sia fisicamente collegato al pin B sul chip B e che tutti quei pin funzionino correttamente.

Poiché JTAG dà accesso hardware diretto a un dispositivo, è anche uno strumento ideale per la ricerca sulla sicurezza.