EEPROM Seriale I2C STMicroelectronics, da 256 kB, UFDFPN, 450 ns, Superficie, 8 Pin

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Prezzo per 1 bobina da 5000 unità*

1615,00 €

(IVA esclusa)

1970,00 €

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5000 +0,323 €1.615,00 €

*prezzo indicativo

Codice RS:
190-6758
Codice Distrelec:
303-97-143
Codice costruttore:
M24256-BFMC6TG
Costruttore:
STMicroelectronics
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Marchio

STMicroelectronics

Dimensione memoria

256kB

Tipo prodotto

EEPROM

Tipo di interfaccia

Seriale I2C

Tipo di package

UFDFPN

Tipo montaggio

Superficie

Numero pin

8

Frequenza di clock massima

1MHz

Tensione minima di alimentazione

1.7V

Tensione massima di alimentazione

5.5V

Numero bit per parola

8

Minima temperatura operativa

-40°C

Temperatura massima di funzionamento

85°C

Lunghezza

2.1mm

Standard/Approvazioni

RoHS 2011/65/EU

Serie

M24256

Altezza

0.6mm

Standard automobilistico

AEC-Q100

Numero parole

32k

Corrente di alimentazione

2.5mA

Conservazione dei dati

200anno

Tempo massimo di accesso casuale

450ns

Il M24256-BW può funzionare con una tensione di alimentazione da 2,5 V a 5,5 V, il M24256-BR e il M24256-DR funzionano con una tensione di alimentazione da 1,8 V a 5,5 V, mentre il M24256-BF e il M24256-DF funzionano con una tensione di alimentazione da 1,7 V a 5,5 V. Tutti questi dispositivi funzionano con una frequenza di clock di 1 MHz (o inferiore), in un intervallo di temperatura ambiente di –40 °C / +85 °C.

Compatibile con tutte le modalità bus I2C:

1 MHz

400 kHz

100 kHz

Matrice di memoria:

256 Kbit (32 Kbyte) di EEPROM

Dimensioni pagina: 64 byte

Pagina aggiuntiva bloccabile in scrittura

Tensione di alimentazione singola e alta velocità:

Clock da 1 MHz da 1,7 V a 5,5 V.

Scrivi:

Scrittura byte entro 5 ms.

Scrittura pagina entro 5 ms.

Gamma temperature di funzionamento:

Da -40 °C a +85 °C.

Modalità di lettura casuale e sequenziale

Protezione da scrittura dell'intero array di memoria

Protezione ESD/latch-up migliorata

Più di 4 milioni di cicli di scrittura

Oltre 200 anni di conservazione dei dati

Involucri

SO8

TSSOP8

UFDFPN8

WLCSP

Wafer non segato (ogni die viene testato)

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