Chiavetta USB ATP 2 GB Grado industriale USB 2.0 SLC -40 °C -40 °C
- Codice RS:
- 194-7444
- Codice costruttore:
- AF2GUFNDNC(I)-AAAXX
- Costruttore:
- ATP
Prezzo per 1 unità*
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- Codice RS:
- 194-7444
- Codice costruttore:
- AF2GUFNDNC(I)-AAAXX
- Costruttore:
- ATP
Specifiche
Documentazione Tecnica
Normative
Dettagli prodotto
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Seleziona tutto | Attributo | Valore |
|---|---|---|
| Marchio | ATP | |
| Tipo prodotto | Chiavetta USB | |
| Dimensione memoria | 2GB | |
| Specifiche USB | USB 2.0 | |
| Grado industriale | Sì | |
| Autodistruzione | No | |
| Tipo NAND | SLC | |
| Standard/Approvazioni | RoHS | |
| Temperatura massima di funzionamento | -40°C | |
| Minima temperatura operativa | -40°C | |
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|---|---|---|
Marchio ATP | ||
Tipo prodotto Chiavetta USB | ||
Dimensione memoria 2GB | ||
Specifiche USB USB 2.0 | ||
Grado industriale Sì | ||
Autodistruzione No | ||
Tipo NAND SLC | ||
Standard/Approvazioni RoHS | ||
Temperatura massima di funzionamento -40°C | ||
Minima temperatura operativa -40°C | ||
ATP USB 2.0 NANODURA (SLC) è un prodotto di memoria flash a stato solido conforme agli standard USB 2.0 e USB 1.1. ATP UFD è progettato per il collegamento diretto a connettori femmina USB-A e compatibile con interfaccia USB. ATP Industrial Grade UFD è ideale per applicazioni industriali critiche, come ad esempio un'applicazione di avvio. ATP UFD viene fornito con la sua funzione plug and play pronta per l'uso. Inoltre, include un controller intelligente che gestisce i protocolli di interfaccia e la memorizzazione dei dati, nonché ECC, la gestione dei difetti, la diagnostica e il controllo dell'orologio.
Flash NAND SLC (Single-Level-Cell) con una durata più lunga
Maggiore durata con lalgoritmo Advanced Wear Levelling
10 anni di conservazione dei dati per unità USB ATP Industrial Grade basate su SLC rispetto alla ai 6 mesi delle unità USB basate su tecnologia MLC
La tecnologia System in Package (SIP) tollera temperature di esercizio estreme: da –40 °C a 85 °C; resiste anche all'acqua, all'umidità, alle vibrazioni, agli urti e alle scariche elettrostatiche
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